Warto jest także przyjrzeć się topograficznym obrazom wybranych powierzchni. Analiza topograficzna wykorzystywana jest m.in. w badaniach procesów obróbkowych do odzwierciedlenia procesu wytwarzania, optymalizacji procesów obróbki, doboru i weryfikacji narzędzi skrawających oraz ich zużycia. Ponadto metoda ta wykorzystywana jest do inspekcji szkieł kontaktowych, analizy protez czy innych tworzyw, a także do badania powierzchni zębów i włosów. Analizując topografię powierzchni można również określić właściwości adsorpcyjne danego materiału.
- Wyznaczyć bezwzględną masę cząsteczkową, rozkład mas cząsteczkowych, stopień rozgałęzienia i skład kopolimerów za pomocą techniki GPC/SEC.
- Wyznaczyć strukturę cząsteczkową za pomocą reometru rotacyjnego oraz właściwości procesowe za pomocą reometru kapilarnego
- Symulować naprężenia, temperaturę i ciśnienie występujące w czasie obróbki polimeru
- Zmierzyć wielkość cząstek nano oraz mikro
- Stworzyć „obraz fazowy” powierzchni kompozytu, który dostarczy jakościowe informacje o właściwości mechanicznych powierzchni przy pomocy mikroskopu sił atomowych
- Określić stabilność termiczną oraz chemiczną badanych materiałów
- Monitorować procesy polimeryzacji w czasie rzeczywistym
Przedstawione poniżej produkty spełniają wiele wymagań charakteryzujących sektor przemysłu polimerowego, gumowego i kompozytowego. Zgodność z wymogami RoHS jest doskonałym przykładem zaangażowania w regulacje środowiskowe, spójność produktu i recykling tworzyw sztucznych.
Kolejnym przykładem rozwiązań wpływających na jakość i bezpieczeństwo produktu jest kalibracja ADPOL, która umożliwia analizę elementarną dodatków i wypełniaczy, zapewniając zgodność z wymaganiami REACH.
Mierzone parametry: | Masa cząsteczkowa, wielkość i struktura makromolekuł |
Dozwolone próbki: | Polimery, proteiny, biopolimery |
Temperatura pomiaru: | do 60°C |
Mierzone parametry: | Wielkość cząstek, potencjał zeta, masa cząsteczkowa |
Zakres pomiarowy: | 0,3nm - 10µm |
Dozwolone próbki: | Mokre |
Technika: | DLS, ELS, SLS, MADLS |
Mierzone parametry: | Topografia powierzchni Chropowatość powierzchni (Ra) Grubość warstw Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału) Wielkość cząstek |
Technika: | Mikroskopia sił atomowych |
Czas pomiaru: | 16 sekund - 20 minut |
Przeznaczenie: | Laboratorium |
Mierzone parametry: | Topografia powierzchni Chropowatość powierzchni (Ra) Grubość warstw Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału) Wielkość cząstek |
Technika: | Mikroskopia sił atomowych |
Czas pomiaru: | 16 sekund - 20 minut |
Przeznaczenie: | Laboratorium |
Mierzone parametry: | Topografia powierzchni Chropowatość powierzchni (Ra) Grubość warstw Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału) Wielkość cząstek |
Technika: | Mikroskopia sił atomowych |
Czas pomiaru: | 16 sekund - 20 minut |
Przeznaczenie: | Pomiary on-line |
Mierzone parametry: | Analiza strukturalna: struktura drugo- i trzeciorzędowa Stabilność: termiczna i chemiczna |
Zakres temperatur: | 20 - 90°C |
Zakres pomiarowy: | 163 – 1150nm (możliwość rozszerzenia do 1700nm) |
Wydajność: | Skan spektrum dalekiego UV – 1:40 min |
Technika pomiarowa: | spektroskopia w bliskiej podczerwieni (NIRs) |
Dostępne modele chemometryczne: | ilościowe lub jakościowe |
Dodatkowe tryby analizy: | analiza kropli cieczy, analiza tabletek, analiza cieczy w kuwecie |
Przeznaczenie: | potwierdzenie tożsamości surowców (RMID), analiza stężenia konkretnego związku w mieszaninie |
Technika pomiarowa: | spektroskopia w bliskiej podczerwieni (NIRs) |
Mierzone parametry: | unikalne dla każdego procesu (ilościowo lub jakościowo) |
Tryby analizy: | refleksyjny, transmisyjny (PAT-L) |
Przeznaczenie: | badania i rozwój, produkcja |
Mierzone parametry: | Wielkość cząstek |
Zakres pomiarowy: | 0,5 – 50.000 µm |
Dozwolone próbki: | Mokre, suche, spray'e |
Technika: | Analiza obrazu |
Przeznaczenie: | Pomiary on-line, in-line, at-line |
Mierzone parametry: | Wielkość cząstek |
Zakres pomiarowy: | 50µm do 6000µm |
Dozwolone próbki: | Mokre, suche |
Przeznaczenie: | Pomiary on-line, in-line, at-line |
Mierzone parametry: | Wielkość cząstek |
Zakres pomiarowy: | 100nm do 2500µm |
Dozwolone próbki: | Mokre, suche, spray'e |
Technika: | Dyfrakcja laserowa |
Przeznaczenie: | Pomiary on-line, in-line, at-line |
Różnicowe kalorymetry skaningowe (DSC): NEXTA DSC600 i NEXTA DSC200
Mierzone parametry: | przepływ ciepła |
Zakres temperatur: | od -150 °C do 725 °C |
Zastosowanie | analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych |
Jednoczesne analizatory termograwimetryczne (STA): NEXTA STA200 i NEXTA STA300
Mierzone parametry: | przepływ ciepła, zmiana masy próbki, zmiana temperatury próbki |
Zakres temperatur: | temperatura pokojowa do 1500 °C |
Zastosowanie | analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych |
Analizatory termomechaniczne (TMA): TMA7100 i TMA7300
Mierzone parametry: | odkształcenie wywołane obciążeniem |
Zakres temperatur: | od -170 °C do 600 °C lub temperatura pokojowa do 1500 °C |
Zastosowanie | analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych |
Dynamiczny analizator mechaniczny (DMA): DMA7100
Mierzone parametry: | moduł tłumienia drgań wywołany oscylacyjnym obciążeniem |
Zakres temperatur: | od -150 °C do 600 °C |
Zastosowanie | analiza termiczna, charakterystyka właściwości mechanicznych i lepkosprężystych |